系统科学在岩石破裂失稳研究中的应用（二）

运用现代系统科学理论，从突变，耗散结构，结构模式对偶性原理以及分形等方面对岩石破裂过程中的失稳进行了研究，在本文的第二部分，根据自然界结构模式的对偶性原理，研究了岩石破裂的失稳过程与地震孕育序列的一致性，并认为这种一致性究其根源是岩石试件与地壳介质在裂纹分布上存在着微观层次与宏观层次的自相似性。     

高Reynolds数流动的时均能量方程及熵增表达式

本文对湍流耗散过程作了详细的热力学分析,明确提出不仅在时均动量方程中,而且在时均能量方程及热力学第二定律的表达式中,湍流影响项与粘性影响项也具有相拟的张量表达式,而且与用何种湍流模型计算Reynolds 应力张量Ⅱ_r 无关.本文还引进名义滞止焓和平均流动熵的概念,推导出适合数值求解的封闭的克罗柯形式的时均流动方程组.     

断裂带作为油气散失通道的输导能力

通过断裂散失的油气量主要与断裂带的输导能力、实际进入断裂带的油气量、断裂通道的长度、散失时间和储层分流系数等参数有关。断裂带输导能力的主要因素是断裂带的宽度和储层渗透率。利用断裂散失模型计算了不同规模的断裂带作为油气散失通道的输导能力。计算结果表明 ,大型断裂带输导油气的能力远大于储层输导油气的能力。断裂活动期进入“通天”大断裂带的油气主要趋于散失 ;小断裂由于储层的分流作用 ,即使在活动期 ,它作为油气散失通道的作用也是有限的 ,其油气的散失量可以忽略不计。     

热力学与生命现象研究(综述)

利用热力学熵增原理解释生物体系自组织现象的非平衡态。综述微量量热法在生命科学生物代谢过程中的应用及生物热分析在生命系统生理过程研究中的应用。     

一些Fuzzy映象的重合度

本文讨论一些Fuzzy映象的重合度的存在性,得出了一些新的重合度定理.本文所得结果统一和发展了引文[5～9]中的许多重要结果.     

基于耗散极值原理的渐进结构成长方法

目前的传热通道设计普遍使用的是传统密度法,密度法有一个不被大家重视的问题就是伪密度问题.因为使用伪密度,每一个单元导热系数都不是真实存在的,当将这些单元筛选后,和真实值存在差异.针对此问题提出了基于火积耗散极值原理的渐进结构优化方法,通过比较分析,采用以生长为主退化为辅的策略,整体火积耗散在3个不同算例下比密度法筛选后的结果分别小了14%,24%,9%,即先生长后退化的双向渐进结构优化方法在真实情况下是一种比传统密度法更优秀的优化方法.     

热管刀具的设计及散热性能测试

为设计结构合理的热管刀具,研制了热管性能测试系统,模拟热管在车刀内的工作条件,通过正交试验优化热管使用参数.在此基础上,分别设计了嵌入式、侧压式和槽嵌式3种不同热管植入形式的热管刀具,并进行干车削45#钢实验,以量化评估这几种热管刀具的散热性能.对热管的传热测试结果表明:圆热管和扁热管在受热段长度18 mm、冷却段长度20mm、循环冷却水温度75℃、热管弯曲5°时的传热效果最优.对这几种热管刀具的切削量热实验表明:嵌入式热管刀具中的热管传热效率最高,槽嵌式的次之,侧压式的最弱.     

基于地震损伤次生火灾概率研究

地震的发生会破坏原有的自然平衡和社会稳定,易引起一系列二次破坏,这种破坏在空间上和时间上可能比地震本身更具危害性.其中,火灾是建筑物主要面临的地震次生灾害之一.云南大学新校区地处昆明市呈贡区,位于小江断裂带和普渡河断裂带之间,属地震多发区,且学校内部建有化学实验室和食堂,地震发生后极易引发次生火灾.为了研究校园区域地震次生火灾的发生率,通过MATLAB程序调用SAP2000对一幢RC框架结构进行非线性时程分析,基于Park-Ang双参数损伤模型求解结构在不同强度等级地震作用下的损伤D值,并结合实地调研构建适用于不同使用功能建筑的次生火灾起火概率模型,为云南大学震后火灾救援工作和基于性能的抗震防火设计提供参考.     

火炬松树干液流的研究

采用ICT-2000TE树干液流测定系统，研究了密度为1020株/hm^2的11年生火炬松秋季树干液流特征及其与环境因子的关系。结果表明：火炬松树干液流表现为单峰曲线，日出后，树干液流迅速上升，峰值出现在中午前后，日落后至次日日出前液流微弱或几近无上升液流；树干液流速度白天10时至17时平均约26cm/h，最大达到54cm/h；不同径阶火炬松树干液流流量差异极显著。4株样木的胸径分别为13．5，10．2，15．7，16．6cm，秋季耗水量分别为13．28，13．27，36．33，49．80kg/d。环境因子对树干液流的影响次序由大到小依次为：气温、相对湿度、光合有效辐射、土壤温度、土壤水分；逐步回归建立的方程达到极显著水平。     

CMOS集成电路闩锁效应的形成机理和对抗措施研究

以反相器电路为例。介绍了CMOS集成电路的工艺结构；采用双端pnpn结结构模型，较为详细地分析了CMOS电路闩锁效应的形成机理；介绍了在电路版图级、工艺级和电路应用时如何采用各种有效的技术手段来避免、降低或消除闩锁的形成。这是CMOS集成电路得到广泛应用的根本保障。